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AOI设备对波峰焊插件漏插反插检测目前正对行业波峰焊插件反插，漏插，等波峰焊前段插件的检测技术，迈瑞公司研发生产了12000000像素的AOI检测设备，解决了行业插件检测前段的难题，该AOI设备主要采用了行业领先技术矢量分析及ＰＡＧ算法，突破和改变了原来ＡＯＩ采用的图像对比方法，该项技术以获得国家专利， AOI设备检测插件错件错件，主要是用于检测元件本体的检测，检测该元件是否发生错料。该检测项是AOI设备检测的常规检测项。错件可采用四种检测算法，其四种检测算法分别为TOC算法、OCV算法、Match算法和OCR算法。每个错件的检测算法针对检测项目的偏重不一样。 TOC算法类的错件检测，主要用于非字符类元件的错件检测，该类元件主要为电容。该类检测法是通过抽取元件的本体色，判断元件本体色是否改变，来检测元件的错件。其中元件的本体色参数，无默认参数，是根据实际的本体色给出的色彩抽取参数。 OCV算法类的错件检测，主要用于清晰字符类的错件检测，该类元件主要为电阻。该类检测法是通过获取待测字符轮廓与标准字符的字符轮廓的拟合程度，来判断元件是否发生错件。该类检测的判定参数的默认范围为（0， 12）。如标准字符为“123”，待测字符为“351”，拟合返回值为28.3，判定范围为（0， 12），则该元件发生“错件”。 Match类检测算法，主要是用于模糊字符类的错件检测，该类元件主要为二极管、三极管等。该类检测算法主要是通过获取待测字符区域与标准字符区域的相似程度，来判定元件是否发生“错件”。该类错件的判定范围默认为（0，32）。 OCR类检测算法，主要是用于重要部件的元件的检测，该类元件主要为BGA、QFP等。该类算法主要是通过识别待测字符，判定待测字符是否与标准字符一致来检测和判断是否发生错件。如标准字符为“123”，实际字符为“122”，则OCR算法判断该类元件发生“错件”。 AOI检测设备对波峰焊插件缺件得检测缺件，主要用于检测元件本体是否存在，是AOI常规检测中不可或缺的检测项。该类检测采用的检测算法有TOC、Match、OCV、OCR、Length、Histogarm等检测算法。其中TOC、Match、OCV、OCR与错件的使用一致。 Length算法主要是通过检测Chip件（电容）本体的长度，或者电极的长度，来判断元件是否发生缺件。该算法检测主要应用于炉前检测、红胶检测。Length算法的判定参数的默认范围为（42， 58）。见下图：
上图为Length的外距测量法，检测点的程度为98，标准检测点的长度为95，则返回值为53，其返回值的计算公式如下： 返回值 = 检测点的实际长度 – 检测点的标准长度 + 50 Length的判定范围为（42， 58），则缺件检测结果为“OK”。 Histogram类的检测算法，主要是通过检测Chip件元件的焊点的亮度是否超出范围来判断是否发生缺件。该类算法应用于炉后检测。其默认判定范围为（0， 120），如下：
上图【比率】为100%，该项检测就是均值算法。 波峰焊插件极性反插极性反，是AOI检测设备对插件极性元件方向的必需检测项。检测极性反可选择的算法有TOC、Match、OCV、OCR和Histogram算法。其中TOC、Match、OCV、OCR的检测算法与错件一致。Histogram类检测算法，采用了最大值（最小值）来检测元件是否发生极性反现象。在极性元件中存在极性标识，该极性标志的亮度明显要大于（小于）元件的本体亮度，可采用最大值（最小值）来检测判断元件是否发生极性反。如极性元件存在一高亮区域，该亮度区域的亮度要大于200，则可设定判定范围（200， 255），采用最大值算法来进行检测，如下：
上图选择【比率】为5，检测模式为【Max】，返回值为243，则该元件的方向OK。 1.4.6. 短路短路检测，是AOI检测中一种最常见的检测项。短路检测主要应用于IC类的IC脚之间的检测、波峰焊元件之间的检测等。短路检测采用的算法为“Short”，该算法中分为“投影法”和“色彩抽取法”等2种检测方式，2种检测方式分别具备不同的检测意义。 投影法，主要检测IC类的短路，并且IC脚之间无白色丝印干扰。该类检测，主要是检测IC脚之间的亮度是否发生突变性变化（短路现象），如下：
上图为投影类短路检测法的效果处理图，其相关参数如下：
上述参数，一般状态采用“自动参数”获取自动短路参数。 色彩抽取类短路检测，是通过消除检测区域之间的背景，通过分析检测区域之间是否存在非背景成分相连，来判定元件是否发生短路。该类检测是炉后IC、波峰焊检测中最常用的短路检测算法。该类检测用到了一组消除背景参数，如下：
上图中的参数的含义如下：
通过设定以上参数，来消除短路区域之间的背景成分。若还存在未消除的色彩背景时，此时增加背景抽取参数，来消除背景参数，用到算法“TOC”。 |
